Amorfo halkogenīdu virsmas foto inducētā modulācija

Abstract

Darbs balstās uz tiešā ieraksta iespēju izpēti gaismu jutīgos materiālos, un mērķis ir izpētīt amorfo halkogenīdu jutību pret gaismu. Kā viena no izpētes metodēm tiks izmantots tiešais hologrāfiskais ieraksts, t.i., virsmas reljefa jeb hologrāfisko režģu veidošana halkogenīdos tieši ieraksta laikā bez jebkādas papildus apstrādes kā, piemēram, kodināšanas. Šīs metodes pilnīga izstrāde paver plašas pielietojuma iespējas optisko elementu ražošanā un pielietošanā, kā arī jaunu un inovatīvu tehnoloģiju ieviešanā. Vēl joprojām daudz interesantu parādību amorfajos halkogenīdos nav labi izprasti un izskaidroti mikroskopiskā līmenī un tāpēc šī darba uzdevumi būs tieši saistīti ar šo procesu izpēti. Darbā tiks apzināta ieraksta efektivitātes atkarība no tā parametriem (intensitātes, polarizācijas) un ieraksta apstākļiem, iegūtajām nanostruktūrām tiks pētītas to optiskās īpašības- caurlaidība, atstarošanās, difrakcijas efektivitāte u.c. Iegūtās struktūras tiks skatītas ar atomspēku mikroskopijas palīdzību, nosakot to formu un izmērus.

Amorfie halkogenīdi; tiešais ieraksts; difrakcijas efektivitāte

The dissertation is based on direct recording phenomenon, which objective is to do a research on the amorphous chalcogenide susceptibility to light. As one of the research methods, a direct holographic record will be used, i.e., creating surface relief in chalcogenides directly without any additional processing, like etching. Complete development of this method opens wide range of usage possibilities in optical element production and utilization, as well as in introduction of new and innovative technologies. There is still a lot of interesting phenomena in amorphous chalcogenide that are not well understood and explained in a microscopic level and so this work will be directly involved in the process of research. Record efficiency dependence from its parameters (intensity, polarization) and recording conditions will be examined. Optical properties for obtained nanostructures will be studied, such as transmission, reflection, diffraction efficiency, etc. The obtained structures will be viewed by atomic force microscopy, determining their shape and size.

Amorphous chalcogenides, direct recording, diffraction efficiency