Gaismas daudzkārtējās iekšējās atstarošanās ietekme uz plānu polimēru kārtiņu elektrooptisko koeficientu noteikšanu - Nitišs, Edgars (Latvijas Universitāte, 2011)
LU CFI Organisko Materiālu laboratorijā EO koeficientu noteikšanai izmanto MZI metodi. MZI metode tika izvēlēta, jo tai ir liela jutība pret fāzes un intensitātes modulācijām paraugā. Šīs metodes lielākā priekšrocība ir iespējā noteikt neatkarīgi abus plānu polimēru kārtiņu raksturojošos EO koeficientus - r13 un r33. Neskatoties uz to šī metode nav guvusi plašu pielietojumu, jo tai piemīt arī savi trūkumi. Blakus vispārzināmajiem metodes trūkumiem darbā izceltas arī citas metodes nepilnības, kuras rodas no gaismas daudzkārtējās iekšējās atstarošanās, pjezoelektriskais un elektrostrikcijas efekti paraugā. Eksperimentālo datu korektai interpretācijai šie efekti ir jāņem vērā. Darbā tika veikta MZI modulētā signāla leņķiskās atkarības skaitliska aproksimācija ar Abelsa matricu formālismu. Darba rezultātā tiek pilnveidota metode plānu kārtiņu EO koeficienta noteikšanai ar MZI, kā arī parauga strukturas ietekme uz EO koeficientu mērījumiem.

At the ISSP UL Laboratory of Organic materials we have implemented the MZI method for determination of EO coefficients of thin organic films. MZI method is chosen because it has high sensitivity to phase and intensity modulations in the sample arm and allows one to determine independently both thin film EO coefficients - r13 and r33. However, effects like multiple internal reflection, piezoelectric un electrostriction in the sample can have significant influence when explaining the experimental data. Taking into account these effects via the Abeles matrix formalism we have performed numerical simulations of the EO modulatied signal at various incidence angles for two different sample configurations. As a result, an approach for determination of EO coefficients using a MZI is proposed and discussed thhe impact of sample configuration on method performance.
Multiple internal reflection effect on determination of electrooptic ceoficients of thin organic films
Keywords: Fizika