NiO režģa dinamikas pētījumi ar apgriezto Monte-Karlo metodi

Abstract

NiO režģa dinamika tika izpētīta pie septiņām temperatūrām no 10K līdz 300K, izmantojot Ni K malas rentgenabsorbcijas spektroskopiju apvienojumā ar apgrieztā Monte Carlo simulācijām. Salīdzinājumam veica režģa dinamikas aprēķinus ar empīrisko potenciālu. Potenciāla modeli apstiprināja, salīdzinot eksperimentālos NiO Ni K malas izstieptās rentgenabsorbcijas sīkstruktūras (EXAFS) spektrus ar molekulārās dinamikas modelēšanas rezultātiem pie 300 K. Ni-O un Ni-Ni atomu pāru vidējās kvadrātiskās relatīvās nobīdes (MSRD) noteica ar divām metodēm un salīdzināja ar literatūrā pieejamajiem datiem.

Lattice dynamics of NiO was studied at seven temperatures from 10K to 300K using the Ni K-edge X-ray absorption spectroscopy combined with the reverse Monte Carlo simulations. Lattice dynamics calculations with empirical potential were also performed for comparison. The potential model was validated by comparing the experimental Ni K-edge extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) spectrum of NiO with the results of molecular dynamics modelling at 300 K. The mean-square relative displacements (MSRD) for Ni-O and Ni-Ni atom pairs were determined by two methods and compared with the data available in the literature.