dc.contributor.advisor | Zauls, Vismants | en_US |
dc.contributor.author | Taukulis, Reinis | en_US |
dc.contributor.other | Latvijas Universitāte. Fizikas un matemātikas fakultāte | en_US |
dc.date.accessioned | 2015-03-24T07:06:56Z | |
dc.date.available | 2015-03-24T07:06:56Z | |
dc.date.issued | 2008 | en_US |
dc.identifier.other | 31107 | en_US |
dc.identifier.uri | https://dspace.lu.lv/dspace/handle/7/17665 | |
dc.description.abstract | Bakalaura darbā aplūkotas interferometrisko metožu pielietošanas iespējas mazu
pārvietojumu mērīšanai, paskaidroti dažāda tipa interferometru darbības principi, optisko
interferences signālu reăistrēšanas un apstrādes metodes.
Darba rezultātā ar pieejamo aparatūru LU CFI Segnetoelektriėu fizikas laboratorijā
nodemonstrēts daudzstaru kompensēta diferenciālā interferometra darbības princips, parādot,
kā iespējams veikt mazu deformāciju mērījumus ar augstu izšėiršanu. Izskaidrots divu optisko
detektoru (kvadratūras) reăistrācijas metodes pielietojums joslu dalīšanai un modulācijas
metodes pielietojums Ĝoti augstas izšėiršanas sasniegšanai.
Ar darba rezultātiem ir parādīts, ka izveidotais interferometra prototips un piedāvātās
datu reăistrācijas un apstrādes metodes dod iespēju ar nanometrisku precizitāti veikt
segnetoelektrisku materiālu parauga virsmas pārvietojumu mērījumus. | en_US |
dc.description.abstract | The work considers methods for small displacement sensing with nanometric
resolution using double pass differential interferometer. Various types of interferometers have
been discussed as well as methods of optical interference signal registration and processing.
As a result of this work the working principle of many-beam compensated differential
interferometer has been demonstrated in Ferroelectrics laboratory of UL ISSP. It has been
shown how to realize measurements of small deformations with high resolution and explained
how to use two optical detector (quadrature) registration for fringe subdivision. Also it has
been shown how to use modulation method to gain very high resolution.
Results have proved that this interferometer prototype and methods of data registration
and processing gives the ability to make nenometric precision measurements of surface
displacement of ferroelectric materials. | en_US |
dc.language.iso | N/A | en_US |
dc.publisher | Latvijas Universitāte | en_US |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | en_US |
dc.subject | Fizika | en_US |
dc.title | Interferometrs nanometrisku pārvietojumu mērījumiem | en_US |
dc.title.alternative | Interferometer for nanometric displacement sensing | en_US |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | en_US |