Show simple item record

dc.contributor.advisorValeinis, Jānisen_US
dc.contributor.authorDasmane, Ievaen_US
dc.contributor.otherLatvijas Universitāte. Fizikas un matemātikas fakultāteen_US
dc.date.accessioned2015-03-24T08:01:27Z
dc.date.available2015-03-24T08:01:27Z
dc.date.issued2013en_US
dc.identifier.other24257en_US
dc.identifier.urihttps://dspace.lu.lv/dspace/handle/7/21651
dc.description.abstractŠī darba mērķis ir maiņas punktu analīze ilglaicīgi atkarīgiem procesiem. Tiks apskatīti Vilkoksona un vidējo vērtību starpības divu izlašu testi, kas nesen ieviesti ilglaicīgās atmiņas procesiem (skatīt Taqqu, Dehling un Rooch). Ar simulāciju palīdzību tiks salīdzināta testu empīriskā jauda, kā arī analizēta statistiku asimptotiskā uzvedība pie nosacījuma, ka izpildās nulles hipotēze. Tiks analizēta empīriskās ticamības funkcijas metodes pielietojamība maiņas punktu noteikšanā ilglaicīgi atkarīgiem procesiem un salīdzināta ar divu izlašu testiem, kā arī ar standarta CUSUM algoritma procedūru.en_US
dc.description.abstractThe aim of this work is change point analysis for the long range dependent processes. The Wilcoxon and the difference-of-means two sample tests will be discussed, based on recent results for long range dependent processes (see Taqqu, Dehling and Rooch). In a simulation study the power and the confidence level of both tests will be compared, when the null hypothesis holds. The applicability of the empirical likelihood method for the change point detection in long memory processes will be analyzed and compared with the two sample tests as well as with the standart CUSUM procedure.en_US
dc.language.isoN/Aen_US
dc.publisherLatvijas Universitāteen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.subjectMatemātikaen_US
dc.titleNeparametriskie maiņas punkta testi ilglaicīgi atkarīgiem novērojumiemen_US
dc.title.alternativeNonparametric change point tests for long range dependent dataen_US
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesisen_US


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record