POLIMĒRU UN VOLFRAMĀTU NANODAĻIŅU HIBRĪDU SISTĒMU PĒTĪJUMI RENTGENSTARU DETEKTORU IZVEIDEI

Abstract

Šajā darbā tika veikti pētījumi ar hibrīdām organisko-neorganisko vielu plāno kārtiņu sistēmām, ar mērķi detektēt uz tām krītošo rentgenstaru starojumu. Hibrīdās sistēmas tika veidotas no neorganiskām vielām - dažādu smago metālu (kadmija, cinka, niķeļa, stroncija, kalcija, kobalta) volframātu nanodaļiņām, un dažādām organiskajām vielām – poli(3-heksiltiofēn-2,5-diila) jeb P3HT, 4-(3’-fenil-3’H-ciklopropa[8,25](C61-D5h()6))[5,6]fullerēn-3’-il)butānskābes metilestera jeb PCBM(fulerēns), PVK jeb poli-vinilkarbozola un poli(3,4-etilēndioksitiofēna) polisterēna sulfāta jeb PEDOT:PSS, kuri visi ir organiskie pusvadītāji. Ar šīm vielām tika veidotas dažādas plāno kārtiņu struktūras un veikta to apstarošana ar rentgenstariem, lai noteiktu to rentgenstaru detektēšanas spēju un jutību. Tika veikti kārtiņu īpašību raksturojoši mērījumi, kā elektriskās vadītspējas mērījumi un kārtiņu apskate skenējošā elektronu mikroskopā (SEM). Iegūtie rezultāti tika salīdzināti ar literatūrā pieejamajiem datiem un tika izdarīti secinājumi par konkrēto sistēmu pielietošanas efektivitāti.

In this work, research was performed with hybrid thin-film systems of organic-inorganic substances, with the goal of the detection of X-rays that they are irradiated with. These hybrid systems were formed from inorganic substances - tungstate nanoparticles of various heavy metals (cadmium, zinc, nickel, strontium, calcium, cobalt), and various organic compounds - poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) or P3HT, Phenyl-C61-butyric acid methylester or PCBM (fullerene) and poly(3,4-ethylenedioxythiophene) polystyrene sulfonate or PEDOT: PSS, all of which are organic semiconductors. Various thin film structures were formed with these substances and irradiated with X-rays to determine their X-ray detection capability and sensitivity. Additional measurements characterizing the properties of the films were performed, such as measurements of electrical conductivity and examination of the films under a scanning electron microscope (SEM). The obtained results were compared with the data available in the literature and conclusions were made about the efficiency of the application of the specific systems.