Bukins, Jānis (Latvijas Universitāte, 2010)
Skenējošas zondes mikroskopija ir viena no mūsdienu metodēm un ir plaši izmantojama nanozinātnē morfoloģijas pētījumos, fizikālu lauku un to sadalījumu mērīšanai, kā arī nanoobjektu manipulēšanā.
Viens no daudzsološiem ...